碳硅分析仪过冷现象处理
发布时间:2019/12/23 14:27:00


用户使用碳硅分析仪测量铁水成份(CEC%SI%)过程中,有时会发生过冷现象,表现为铁水在凝固过程中共晶凝固阶段铁水温度发生回升,冷却曲线表现为共晶平台在温度下降到最低点后上升然后再下降。

当发生过冷现象时,碳硅分析仪屏幕上显示“测定不良”并闪烁,一般不显示C%SI%测量结果,有时碳当量CE也不显示。过冷异常产生时仪器硬件本身没有问题,它是由样杯内用来测定的铁水的性质决定的,从凝固的角度来讲,是样杯内的铁水不是完全白口凝固,凝固时有石墨产生,要消除过冷异常也要从此角度查

找原因并采取相应措施,操作上主要注意以下几个方面:

1. 样勺不使用混有碳质的耐火材料,不得涂刷含有碳质成份的涂料。

2. 样勺使用前必须经过充分干燥并在被测铁水中反复刷洗,在使用时不得有残铁存留。

3. 检查样杯底部,有碲粒丢失的样杯不得使用。

4. 取样的铁水成份必须是亚共晶铸铁范围,一般CE<4.8C%<4.0SI%<3.0

5. 取样的铁水必须是未经孕育的原铁水(在电炉内加料后马上取样或用留有低温残铁的浇包接铁水均有孕育效果)。

6. 浇入的铁水量为样杯容积的90-100%,铁水不得外溢将碲冲出。

如果以上几方面经检查没有问题,还有一个可能的原因是铁水的杂质成份过高造成的,这些杂质成份有些有反白口化作用,有些会抵消碲的作用,这些元素如铝,铬等,具体到每个用户还需要具体分析。


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